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矢量網(wǎng)絡分析儀(3.2GHz) |
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| 型 號：A333 |
| 品 牌：韓國興倉Protek |
| 技術指標：測量范圍：300kHz~3.2GHz |
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大同矢量網(wǎng)絡分析儀(3.2GHz)-A333-韓國興倉Protek
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矢量網(wǎng)絡分析儀
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頻率范圍300kHz到3.2GHz 頻率分辨率1mHzIF帶寬設置1Hz到30kHz
功率范圍-45dBm到+10dBm功率精度±1.0dB顯示10.4英寸 TFT彩色液晶(800x600)觸摸屏
用戶界面USB2.0, 以太網(wǎng), 鍵盤, 鼠標, 打印機, 視頻
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測量性能
測量參數(shù)：S11,S21,S12,S22
測量通道數(shù)量：最大到16個獨立的邏輯通道, 一個邏輯通道被定義為某一激勵信號設置, 如頻率范圍, 測試點數(shù),功率等每個邏輯通道在屏幕上作為獨立的通道窗口顯示
數(shù)據(jù)跟蹤：最大到16個數(shù)據(jù)跡線顯示在各自的通道窗口上, 一個數(shù)據(jù)跡線顯示被測器件的某一參數(shù),如S參數(shù),時域響應,輸
入功率響應
存儲跟蹤：16個數(shù)據(jù)跡線的每一個都能將當前值保存到存儲器用于比較.
數(shù)據(jù)顯示格式：對數(shù)幅值,線性幅值,相位,延長相位,群延遲, 駐波比實部,虛部,史密斯圓圖,極坐標
數(shù)據(jù)標記：每個跡線最大到16個標記.對增量標記操作可應用參考標記, 史密斯圓圖支持5種標記格式: 線形幅值/相位,對數(shù)幅值/相位,實部/虛部,R + jX 和 G + jB。極坐標支持3種標記格式:線形幅值/相位,對數(shù)幅值/相位, 實部/虛部
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標記功能
標記搜索:搜索最大值,最小值,峰值,左峰值,右峰值,目標值,目標左值,目標右值,帶寬參數(shù)
標記搜索附加特性:搜索范圍設置: 特定值跟蹤或單一操作搜索功能
通過標記設置參數(shù):通過標記的激勵值設置開始、停止、中心頻率, 通過標記的響應值設置參考電平
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掃描特性
掃描測量點數(shù):用戶自行設置 2 到 10001
掃描類型:當激勵功率為固定值時：線性掃描, 對數(shù)掃描; 分段掃描當頻率為固定值時：線性功率掃描
分段掃描特性:在幾個獨立的用戶定義的分段內(nèi)頻率掃描。應為每個分段設置頻率范圍, 掃描點數(shù), ,源功率和IF帶寬
功率:源功率 -45到+10dBm 精度0.05dB,在頻率掃描模式中功率斜率可設置到最高2dB/GHz去補償連接線中高頻衰減
掃描觸發(fā):觸發(fā)模式：連續(xù), 單次, 保持 觸發(fā)源：內(nèi)部, 手動, 外部
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跡線功能
跡線顯示:數(shù)據(jù)跡線, 存儲器跡線或數(shù)據(jù)和存儲器跡線同時顯示
跡線數(shù)學:通過數(shù)學運算更改數(shù)據(jù)跡線：對被測復雜值和存儲器數(shù)據(jù)進行加, 減, 乘, 除
自動刻度:自動選擇刻度和基準值具有最有效的顯示跡線
電延遲:在低損耗測試設置中,將校準面移動,對延遲補償。被測器件線性相位的偏離測量時的電延遲補償。
相位偏移:相位偏移指定度數(shù)
統(tǒng)計:計算和顯示數(shù)據(jù)跡線的平均值, 標準偏差, 峰-峰偏差
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其他特性
熟悉圖形用戶界面:基于Windows 操作系統(tǒng)的圖形用戶界面,保證了用戶快捷和容易的儀器使用
分析儀控制:使用個人電腦
圖表打印/儲存:預覽, 存儲和打印可通過MS Work, Windows 圖象瀏覽器或分析儀打印向導來完成
編程功能:COM/DCOM 自動控制
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測量范圍
阻抗: 50Ω(75Ω)
測試端口連接器: N-type, female
測試端口數(shù)量: 2
頻率范圍: 300kHz to 3.2GHz
全部連續(xù)波形頻率精度: ±5×10
頻率分辨率: 1mHz
測量點數(shù): 2 to10001
IF帶寬: 1 Hz to 30 kHz
(以1/1.5/2/3/5/7步進)
動態(tài)范圍 (IF帶寬 10Hz): 130 dB ,typ.135dB
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測量速度
每個點測量時間: 125μs
源到接收端口轉換時間: 10ms
相對測量點數(shù)的典型掃描時間
測量點數(shù): 51 201 401 1601
開始 300kHz, 停止 10MHz, IF帶寬 30kHz
未校正: 13ms 52ms 104ms 413ms
全二端口校準: 46ms 123ms 226ms 844ms
開始 10MHz, 停止 3.2GHz, IF帶寬 30kHz
未校正: 7ms 27ms 53ms 207ms
全二端口校準: 34ms 73ms 125ms 434ms
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測量精度
傳輸測量精度（幅值/相位）
+15 dB to +5dB: 0.2dB/2°
+5 dB to -50dB: 0.1dB/1°
-50 dB to -70dB: 0.2dB/2°
+70 dB to -90dB: 1.0dB/6°
反測量精度（幅值/相位）
0dB to -15dB: 0.4dB/4°
-15 dB to -25dB: 0.1dB/1°
-25 dB to -35dB: 4.0dB/22°
跡線穩(wěn)定性
跡線噪聲幅值(IF帶寬3kHz): 1mdB rms
溫度依存(每一度的溫度變化): 0.02dB
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一般特性
工作溫度范圍: +5℃ to +40℃
存儲溫度范圍: -45℃ to +55℃
濕度: 90% at 25℃
大氣壓力: 84 to 106.7kPa
電源: 100 to 240 VAC / 47 to 63Hz
功率消耗: 30W
認證: CE
尺寸: 426×22×270mm
重量: 10.6kg
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測試端口輸出
匹配
(無系統(tǒng)誤差校正下): 15 dB
功率范圍: -45dBm to +10dBm
功率精度: ±1.0dB
功率分辨率: 0.05 dB
諧波失真:-30dBc
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測試端口輸入
匹配
(無系統(tǒng)誤差校正下) : 25 dB
最大安全輸入電平: +26dBm
最大安全輸入直流電壓: 35V
噪聲電平: -120dBm
(定義為指定本底噪聲的有效值. IF帶寬 10Hz)
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精度提高
校準:測試設置的校準（包括儀器, 連接線, 轉換器）顯著地增加測量的精度。校準允許對測量系統(tǒng)的不完整性引起的誤差進行校正：系統(tǒng)的定向、輸出源和負載匹配, 跟蹤和隔離
校準方法:可以采用多種混合校準方法來提高精度水平。其中最精確的是全一端口校準, 和全二端口校準
反射和傳輸標準化:對反射和傳輸測量的頻響誤差的幅度和相位校正
全一端口校準:頻響的幅度和相位校正, 對一端口反射測量定向和輸出源匹配誤差校正
單路二端口校準:進行反射和單路傳輸測量, 類似于一端口反射測量,頻響的幅度和相位校正, 對反射測量的輸出源匹配誤差校正
全二端口校準:進行被測器件的全部的S參數(shù)矩陣測量,對反射和傳輸測量的頻響的幅度和相位校正定向和輸出源匹配和負載匹配和隔離。隔離校準可省略
定向校準(可選):定向校正附加到反射校正
隔離校準(可選):隔離校正附加到傳輸校正。全二端口校準中的單路二端口校準
糾錯插補:當使用者改變設置, 如開始/停止頻率和掃描點數(shù), 與校準時的設置進行比較, 插補或校準推定被實行
端口阻抗轉換:在50Ω端口測量的S參數(shù)能轉換為在任意阻抗的測試端口被測定的值。
去嵌入:此功能允許將連接校準面和被測器件的夾具回路的作用從測量結果中算術地除去。此回路通過標準文件里的S參數(shù)距陣來描述
嵌入:此功能允許將校準面和被測器件的夾具回路虛擬集成后, 算術地模擬被測器件參數(shù)。此回路通過標準文件里的S參數(shù)距陣來描述。
S參數(shù)轉換:此功能允許測量的S參數(shù)轉換為如下參數(shù)：反射阻抗, 導納, 傳輸阻抗和導納, S參數(shù)的倒轉
時域變換：使用Chip Z 轉換將測量數(shù)據(jù)從頻域轉換為時域轉換類型：帶通, 低通沖擊, 低通步進, 可進行窗口轉換：最小, 正常, 最大
選通：選通濾波器類型：帶通和陷波選通窗口：寬屏, 正常, 最小
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