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X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng) |
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| 型 號(hào)：X-RAY 5000 |
| 品 牌：德國菲希爾Fischer |
| 技術(shù)指標(biāo)：在生產(chǎn)過程中對(duì)薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續(xù)在線測(cè)量和分析 |
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自貢X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)-X-RAY 5000-德國菲希爾Fischer
X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)，電磁涂層測(cè)厚儀，用于在生產(chǎn)過程中對(duì)薄鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe進(jìn)行連續(xù)在線測(cè)量和分析
特點(diǎn)
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法蘭測(cè)量頭，fisher涂層測(cè)厚儀，用于在生產(chǎn)線中進(jìn)行連續(xù)測(cè)量
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X射線探測(cè)器可以為比例計(jì)數(shù)管，非金屬涂層測(cè)厚儀，珀耳帖制冷的硅 PIN 或硅漂移探測(cè)器
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在生產(chǎn)過程中直接用典型產(chǎn)品進(jìn)行快速簡單校
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可在真空或大氣中使用
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可以在最高 500° C 的高溫基材上進(jìn)行測(cè)量
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堅(jiān)固和耐用是設(shè)計(jì)的重心
典型應(yīng)用領(lǐng)域
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光伏技術(shù)（CIGS，尼克斯涂層測(cè)厚儀，CIS，防火涂層測(cè)厚儀，CdTe）
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分析對(duì)金屬帶、金屬薄膜和塑料薄膜上的鍍層
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連續(xù)生產(chǎn)線
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噴射和電鍍生產(chǎn)線監(jiān)測(cè)
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測(cè)量大面積樣品
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