自貢渦流測(cè)厚儀-ED300型-國(guó)產(chǎn)
ED300型|渦流測(cè)厚儀|國(guó)產(chǎn) 技術(shù)參數(shù)
量程： 0～150μm；
精 度： ±3%；
分辨率：0.1μm；
功耗： 0.06W；
外形尺寸： 150mm×80mm×30mm；
重 量： 280g
ED300型|渦流測(cè)厚儀|國(guó)產(chǎn) 儀器特點(diǎn)
* 膜厚校正片
膜厚校正片是儀器的計(jì)量基準(zhǔn)。本儀器的膜厚校正片全部經(jīng)過技術(shù)監(jiān)督部門的檢測(cè)，大量程涂層測(cè)厚儀，附有檢測(cè)報(bào)告。這一點(diǎn)在國(guó)內(nèi)外儀器中都是不多見的。它保證了儀器計(jì)量的準(zhǔn)確性和可靠性。
* 探頭
測(cè)厚儀最容易損壞的部件是探頭，廣州涂層測(cè)厚儀，本儀器對(duì)探頭做了特殊的耐久性設(shè)計(jì)，具有防磕碰、防水、探頭線防折曲等防護(hù)功能。
* 探頭線
由于儀器使用頻率很高，涂層測(cè)厚儀哪家好，探頭線成為易損件。一般國(guó)產(chǎn)儀器的探頭用不多久就會(huì)出現(xiàn)故障，多數(shù)問題出在探頭線上。
天星測(cè)厚儀使用的探頭線是在日本定做的。這種導(dǎo)線最初用于機(jī)器人，涂層測(cè)厚儀mikrotest，規(guī)定可經(jīng)受幾百萬次的曲折。實(shí)踐證明，這種探頭線很少有因頻繁曲折而損壞的。
* 久經(jīng)考驗(yàn)
鋁型材行業(yè)是使用環(huán)境最惡劣的，time涂層測(cè)厚儀，對(duì)膜厚檢測(cè)的要求也最高，涂層測(cè)厚儀 探頭，通常要求對(duì)每根型材測(cè)試兩端的膜厚。測(cè)厚儀每天可能測(cè)試上千次。探頭還要時(shí)常受到水或氧化槽液的侵蝕，涂層激光測(cè)厚儀，磕磕碰碰時(shí)有發(fā)生。目前國(guó)產(chǎn)渦流測(cè)厚儀有多個(gè)品牌，但是只有天星測(cè)厚儀 ED300 及早期產(chǎn)品 ED200 是可以在這種場(chǎng)合長(zhǎng)期使用的。
目前幾乎每一家鋁型材廠都在使用天星測(cè)厚儀，無損涂層測(cè)厚儀，而其他國(guó)內(nèi)品牌，oxford涂層測(cè)厚儀，加上進(jìn)口儀器的總使用量還不及天星儀器的 1/3。以上足以說明天星測(cè)厚儀性能之優(yōu)良。鋁型材行業(yè)用得住的測(cè)厚儀，defelsko涂層測(cè)厚儀，在其他行業(yè)應(yīng)用應(yīng)該毫無問題。
天星測(cè)厚儀經(jīng)歷了十幾年在惡劣條件下使用的考驗(yàn)。十幾年來我們一直在努力進(jìn)行改進(jìn)和完善，它是一種性能優(yōu)良、可靠實(shí)用的儀器。
ED300型|渦流測(cè)厚儀|國(guó)產(chǎn) 標(biāo)準(zhǔn)配置
主機(jī) 1臺(tái)
膜厚校正片 1套 （4片）
校正基體 1塊
儀器箱 1個(gè)
ED300型|渦流測(cè)厚儀|國(guó)產(chǎn) 可選附件
膜厚校正片 （12μm\25μm\50μm\100μm附檢測(cè)報(bào)告)
校正基體 6063鋁合金
