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345涂層測(cè)厚儀為應(yīng)用非常廣泛的儀器。具有整體式與分離式兩種形式探頭,薄膜涂層測(cè)厚儀,可測(cè)量鐵基(F)、非鐵基(F)或鐵基及非鐵基(FNF)材料的涂層厚度,mpor涂層測(cè)厚儀,總會(huì)有一種儀器滿足用戶的各種要求。
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