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表面粗糙度、輪廓形狀一體測量儀 |
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| 型 號：SV-C3200/SV-C4500 |
| 品 牌：日本三豐Mitutoyo |
技術(shù)指標(biāo)：測量范圍 X 軸 (驅(qū)動部) 100mm
Z1 軸 (檢出器) 800μm/80μm/8μm |
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果洛表面粗糙度、輪廓形狀一體測量儀-SV-C3200/SV-C4500-日本三豐Mitutoyo
Formtracer表面粗糙度、輪廓形狀一體機(jī)
Formtracer SV-C3200/4500 525 系列 — 表面粗糙度和輪廓測量系統(tǒng)
通過更換檢測器，三豐粗糙度儀價(jià)格，一臺機(jī)器上即能測量表面粗糙度和輪廓形狀的高精度一體型測量機(jī) ，同時(shí)能測量表面粗糙度和測量輪廓形狀的混合型測量機(jī) 。
產(chǎn)品特點(diǎn)
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• 高分辨力型Z1軸檢出器作為標(biāo)準(zhǔn)件提供。Z1軸的最高顯示分辨力為0.0001μm(測量范圍為8μm時(shí))。
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• X軸內(nèi)置高精度玻璃光柵尺，time粗糙度儀，直接讀取X軸移動距離，mitutoyo粗糙度測試儀，在高精度精準(zhǔn)定位下，粗糙度輪廓測量儀，完成間距參數(shù)的評價(jià)。
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• 檢出器測力有4mN和0.75mN可選。
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Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂。高精度弧形光柵尺能直接讀取測針的弧形軌跡，以實(shí)現(xiàn)高精度和高分辨力。與傳統(tǒng)型號相比，新測臂使Z1
軸測量范圍增大了10mm 同時(shí)減少了工件的干擾。測臂安裝部采用了磁性鏈接件，單此接觸就能完成測臂的裝卸，無錫粗糙度儀，提高了易用性。
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• 專為SV-C-4500系列增加了以下兩大特性作為輪廓測量系統(tǒng)的專用功能。
裝配雙錐面測針，實(shí)現(xiàn)垂直方向(上/下)連續(xù)測量，粗糙度測定儀，所獲取的數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)簡單分析以往難以測量的內(nèi)螺紋有效直徑。測力可在FORMTRACEPAK軟件中設(shè)置。無需調(diào)整配重。
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•卓越的表面粗糙度/輪廓FORMTRACEPAK分析程序，通過簡單的操作就能進(jìn)行高級分析并即刻輸出結(jié)果。
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• 表面粗糙度測試儀和輪廓測量儀結(jié)合在一起，美國粗糙度儀，節(jié)省安裝空間。
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• 測臂安裝為一鍵式裝卸 (此項(xiàng)專利權(quán)在日本受理中)
測臂安裝部采用了磁性連接件，英國泰勒粗糙度儀，實(shí)現(xiàn)了快速更換。此外，馬爾粗糙度儀，裝卸部內(nèi)置了安全結(jié)構(gòu)。
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•繁瑣的校正也可以上下兩面連續(xù)一次性完成(此項(xiàng)專利權(quán)在日本受理中)
SV-C4500 系列使用專業(yè)校正規(guī)(標(biāo)配附件)，煙臺粗糙度儀，通過改進(jìn)使得上下兩方附帶從動件的上下圓錐測針能簡便易行地進(jìn)行校正。Z1 軸增益、對稱性、探針半徑等繁瑣的校正工作一次便可完成。
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產(chǎn)品規(guī)格
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貨號
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SV-C3200S4
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SV-C3200H4
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SV-C3200W4
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SV-C3200S8
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SV-C3200H8
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SV-C3200W8
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SV-C4500S4
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SV-C4500H4
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SV-C4500W4
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SV-C4500S8
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SV-C4500H8
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SV-C4500W8
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測量表面粗糙度時(shí)
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測量范圍
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X 軸 (驅(qū)動部)
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100mm
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200mm
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Z1 軸 (檢出器)
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800μm/80μm/8μm
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直線度
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(0.05+L/1000) μm L: 驅(qū)動長度 (mm)
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0.5μm/200mm
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分辨力
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Z1軸（檢出器）
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0.01μm(800μm), 0.001μm(80μm), 0.0001μm(8μm)
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測力
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0.75mN (機(jī)身代碼末尾帶 “-1”的型號)
4mN (機(jī)身代碼末尾帶“-2”的型號)
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測針針尖形狀
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60º, 2μmR (機(jī)身代碼末尾帶 “-1”的型號)
90º, 5μmR (機(jī)身代碼末尾帶 “-2”的型號)
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對應(yīng)尺寸
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JIS1982/ JIS1994/ JIS2001/ ISO1997/ ANSI/ VDA
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評價(jià)參數(shù)
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Pa, Pq, Psk, Pku, Pp, Pv, Pz, Pt, Pc, PSm, P q, Pmr(C), Pmr, P&c, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rp, Rv, Rz,
Rt, Rc, RSm, R q, Rmr(C), Rmr, R c, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wp, Wv, Wz, Wt, Wc, WSm, W q,
Wmr(C), Wmr, W c, Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2, A1, A2, Rx, AR, R, Wx, AW, W, Wte, Ry, RyDIN,
RzDIN, R3y, R3z, S, HSC, Lo, Ir, a, a, q, Vo, Htp, NR, NCRX, CPM, SR, SAR, NW, SW, SAW
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評價(jià)輪廓
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原始輪廓、粗糙度輪廓、濾波波紋輪廓、波紋輪廓、滾動圓波形原始輪廓、滾動圓波形
輪廓、包絡(luò)殘余線、DF 輪廓 (DIN4776 / ISO13565-1)、表面粗糙度MOTIF (包絡(luò)波紋輪廓在評
價(jià)MOTIF 時(shí)顯示)
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分析圖
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負(fù)荷曲線、振幅分布曲線、功率譜、自相關(guān)、Walsh 功率譜、 Walsh 自相關(guān)、頂峰分布、
傾斜角分布、參數(shù)分布(磨損量、重疊在輪廓分析可以用于面積等的原始分析)
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曲線補(bǔ)償
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最小平方直線、R 面補(bǔ)償、橢圓補(bǔ)償、拋物線補(bǔ)償、雙曲線補(bǔ)償、二次曲線補(bǔ)償、多項(xiàng)式
補(bǔ)償(自動或任意2~7 次)、無補(bǔ)償
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濾波器
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高斯濾波器, 2CRPC75, 2CRPC50, 2CR75, 2CR50, 魯棒樣條濾波器
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輪廓測量
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測量范圍
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X軸（驅(qū)動部）
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100mm
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200mm
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Z1軸（檢出器）
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60mm (測臂水平位置±30mm)
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直線度
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0.8μm/100mm
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2μm/200mm
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精度
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X軸（驅(qū)動部）
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±(0.8+0.01L)μm L: 驅(qū)動長度 (mm)
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±(0.8+0.02L)μm L = 驅(qū)動長度 (mm)
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Z1軸（檢出器）
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SV-C3200 系列: ±(1.6+|2H|/100)μm, SV-C4500 系列: ±(0.8+|2H|/100)μm
H: 水平位置上的測量高度 (mm)
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分辨力
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X軸（驅(qū)動部）
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0.05 μm
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Z1軸（檢出器）
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SV-C3200 系列: 0.04μm, SV-C4500 系列: 0.02μm
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Z2軸（立性）
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1 μm
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測力
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SV-C3200 系列: 30mN (可調(diào)使用重量)
SV-C4500 系列: 10, 20, 30, 40, 50mN (根據(jù)軟件轉(zhuǎn)換)
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側(cè)頭方向
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SV-C3200 系列: 垂直方向 (向上/ 向下單獨(dú)測量)
SV-C4500 系列: 垂直方向 (向上/ 向根據(jù)配重調(diào)整)
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通用時(shí)
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Z2軸 (立柱) 移動量
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300mm
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500mm
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300mm
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500mm
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X 軸傾斜角度
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±45º
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驅(qū)動速度
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X 軸0
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0 - 80mm/s 外加手動
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Z2 軸 (立柱)
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0 - 30mm/s 外加手動
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測量速度
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0.02 - 5mm/s
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