頻率管理對于蜂窩通信設(shè)備供應(yīng)商具有兩種不同的意義。對于蜂窩網(wǎng)運行而言它可以使大量用戶共享有限的資源。然而也許更為重要的是需要防止由一種電子設(shè)備發(fā)射的信號干擾其它電子設(shè)備的工作。對電磁干擾（EMI）輻射的測量可以對元線設(shè)備所“傳輸”的能量值進(jìn)行規(guī)范從根本上防止干擾的產(chǎn)生。
　　測量輻射電磁發(fā)射可能采取兩種形式即相容性測試和預(yù)相容性測試。相容性測試通常是在產(chǎn)品設(shè)計周期結(jié)束時在已校準(zhǔn)的測試實驗室中進(jìn)行。這種測試的時間較長并且當(dāng)發(fā)現(xiàn)產(chǎn)品超過政府制訂的輻射發(fā)射條例標(biāo)準(zhǔn)范圍時即便進(jìn)行重新設(shè)計克服電磁輻射問題但卻往往延誤了產(chǎn)品的上市時間和銷售的“最佳”時機(jī)給產(chǎn)品銷售帶來巨大壓力。
　　預(yù)相容性測試是代表評估電氣產(chǎn)品輻射電磁發(fā)射的一種更實用的方法。電氣產(chǎn)品輻射發(fā)射的預(yù)相容性測試對由電子設(shè)備散發(fā)出的電磁輻射提供重要的初步檢查并幫助隔離和控制產(chǎn)品內(nèi)部的各種電磁輻射源。與在經(jīng)仔細(xì)控制和己校準(zhǔn)環(huán)境下進(jìn)行的相容性測試不同預(yù)相容性測試通常是在制造廠商自己的工廠內(nèi)部、在不太嚴(yán)格的受控條件下進(jìn)行的當(dāng)然進(jìn)行兩類測試的測量設(shè)備也可能相類似。
　　電磁干擾測試的傳統(tǒng)方法對一臺樣機(jī)進(jìn)行預(yù)相容性測試希望其輻射發(fā)射水平處在規(guī)定的極限之下。相容性測試成本相當(dāng)昂貴：在獨立測試實驗室進(jìn)行相容性測試的產(chǎn)品費用每天可能達(dá)2000美元或更多還不包括排除電磁干擾問題的附加產(chǎn)品開發(fā)費用。
　　相容性測試是按照由一些主管機(jī)構(gòu)如美國的聯(lián)邦通信委員會（FCC）和設(shè)在瑞士日內(nèi)瓦的國際無線電干擾專門委員會（CISPR）所制訂的技術(shù)指標(biāo)來進(jìn)行。預(yù)相容性測試可能遵循相同的輻射發(fā)射規(guī)則以便在樣機(jī)階段和在產(chǎn)品進(jìn)入生產(chǎn)線之前隔離和排除有關(guān)問題。特別是隨著計算機(jī)和其他微處理器驅(qū)動的電子設(shè)備中時鐘頻率的提高在更高頻率處出現(xiàn)不需要的發(fā)射的可能性也相應(yīng)增加。例如若在被測設(shè)備（EUT）中產(chǎn)生或使用的最高頻率處在108~500MHz（5次諧波）范圍則目前FCC要求測試到2GHz。若被測設(shè)備產(chǎn)生或使用500~1000MHz范圍的信號則輻射發(fā)射測試必須進(jìn)行到5GHz。測試的基礎(chǔ)是對最高基本工作頻率或40GHz兩者中較低的一個的5次諧波信號電平進(jìn)行分析。
　　由于相容性測試是在傳統(tǒng)設(shè)計過程的結(jié)束處開始的故最終產(chǎn)品設(shè)計在首次測試期間不能達(dá)到電磁相容性（EMC）目標(biāo)的概率很高而需要一些輔助工程手段如添加襯墊材料這是一種比較容易辦到的事情；也可能會遇到巨大困難如重新設(shè)計印制電路板（PCB）使起類似天線作用的電路板布線重新設(shè)計繞行。
　　預(yù)相容性測試適用于評估主管機(jī)構(gòu)制訂的規(guī)則未涉及到的電子設(shè)計并能以相容性測試一部分費用來完成。預(yù)相容性測試的目的是實現(xiàn)可能的最高精度以使十分接近相容性測試系統(tǒng)的性能。評估輻射發(fā)射的典型預(yù)相容性測試系統(tǒng)由EMC接收機(jī)或頻譜分析儀寬帶天線、近場探頭和測量軟件組成。必要時可以增加低噪聲放大器（LNA）以提高接收機(jī)/分析儀的靈敏度。此外對于傳導(dǎo)發(fā)射測試還需要使用線路阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)（LISN）。USN可對來自交流電源輸入功率濾波防止線路傳導(dǎo)噪聲到達(dá)被測設(shè)備并傳導(dǎo)發(fā)射從被測設(shè)備行進(jìn)到測量接收機(jī)。
　　測量天線將人射電場或磁場強度變換成可由接收機(jī)加以測量的電壓。場強與天線輸出端的電壓之比稱為天線因子。通過將天線因子（dB/m）追加到接收機(jī)讀數(shù)（dBμV）上結(jié)果得到如在天線輻射元上測得的電場強度（dBμV/m）。
　　選擇供EMI測試用的天線涉及到在天線增益與帶寬之間進(jìn)行折衷。給出高測量靈敏度的高天線增益只對有限帶寬才有可能。因此傳統(tǒng)上EMI測量使用了兩種天線即用于30~300MHz頻率的雙錐形天線和用于200~1000MHz頻率的對數(shù)周期天線。單一天線可以覆蓋頻率范圍30~1000MHz盡管這類天線的設(shè)計往往比雙錐形天線對數(shù)周期天線的總價格更高。
　　由于天線相對于被測設(shè)備的移動對檢測最壞情況的發(fā)射十分重要故用在屏蔽室中的EMI測試天線的安裝必須能旋轉(zhuǎn)到某個角度（通常為90°）以改變其極化性能。在屏蔽罩內(nèi)天線則應(yīng)升高到外罩的接地平面上方。高度應(yīng)在1~4m之間可調(diào)以便遵從一些重要的EMI條例（如CISPR制訂的條例）。這些測試天線還應(yīng)能以垂直極化和水平極化方式工作以便易于檢測最壞情況的電磁干擾信號。
　　除天線之外當(dāng)試圖隔離和識別被測設(shè)備中的電磁輻射源時可以用近場探頭來進(jìn)行診斷。顧名思義近場探頭常用在離被測設(shè)備幾英寸范圍內(nèi)以檢測高場強。近場探頭在規(guī)定頻率上以磁場強度單位dBμA/m/μV加以校準(zhǔn)。它們還能評估EMI的抗擾度以及封裝和外罩的屏蔽效果。安捷倫科技公司生產(chǎn)的用于9kHz ~30MHz的11941A型以及用于30MHz~1GHz的11940A型近場探頭便是其中之一二。
　　用于輻射發(fā)射的EMI預(yù)相容性測試系統(tǒng)的最關(guān)鍵部分之一是測試接收機(jī)或頻譜分析儀。EMI測試接收機(jī)能顯示電壓隨頻率變化的關(guān)系。測量結(jié)果通常以對數(shù)值給出以便顯示對1μV歸一化（dBμV）的寬動態(tài)范圍。按相應(yīng)EMC主管機(jī)構(gòu)所要求那樣EMC分析儀實質(zhì)上是一種具有濾波器和檢波器的無線電接收機(jī)。EMI接收機(jī)通常被調(diào)諧到固定頻率或以頻率步進(jìn)調(diào)節(jié)因而一般稱之為固定調(diào)諧接收機(jī)或步進(jìn)調(diào)諧接收機(jī)。具有適當(dāng)濾波器和檢波器的頻譜分析儀也能完成EMC測量。頻譜分析儀（也稱為掃頻接收機(jī)）能在整個帶寬的頻率間隔內(nèi)進(jìn)行快速模擬掃描。
　　無論EMI接收機(jī)或是頻譜分析儀均采用超外差結(jié)構(gòu)。在這類配置中頻率轉(zhuǎn)換（從高輸入信號轉(zhuǎn)換到較低的中頻（IF）是靠將輸入信號與來自接收機(jī)或分析儀內(nèi)部精密本振LO的混頻來完成的。固定調(diào)諧方法則不具掃描接收機(jī)的速度。
　　在歐洲用于相容性測試的EMI接收機(jī)必須滿足CISPR Publication 16-1要求。這類接收機(jī)必須具有足夠大的頻率范圍、供低電平測試的適當(dāng)靈敏度以及足夠大的動態(tài)范圍使能無失真地處理高電平信號。對濾波器帶寬和檢測方法也作了規(guī)定使得在給定的一組條件下用一臺CISPR-16EMI接收機(jī)對特定被測設(shè)備進(jìn)行的測量將與在類似的一組條件下用另一臺CISPR-16EMI接收機(jī)對昆士被測設(shè)備進(jìn)行的測量相一致。
　　一臺優(yōu)良的頻譜分析儀可能增加CISPR濾波器和檢波器功能而不致于使成本有明顯地增加。這些濾波器必須配備CISPR16所規(guī)定的屏蔽罩。所需要的濾波器為9~150kHz、且具有用于CISPR頻帶A的200Hz適當(dāng)隔離帶寬、150kHz ~30MHz且具有用于CISPR頻帶B的9kHz帶寬以及30MHz~1GHz且具有用于CISPR頻帶C/D的120kHz6dB帶寬的三類濾波器。然后在沒有基于EMC的固化軟件時頻譜分析儀必須將測得的數(shù)據(jù)發(fā)送到外部計算機(jī)以繪制合適的極限線并考慮天線因子。
　　為了防止過載并按照CISPR的要求對信號進(jìn)行精確測量EMI接收機(jī)應(yīng)具有某種形式的預(yù)選器。預(yù)選器是位于接收機(jī)前端混頻器之前的一系列不可調(diào)諧或可調(diào)諧濾波器。預(yù)選濾波器的帶寬比EMI接收機(jī)或頻譜分析儀中所用分辨帶寬濾波器更寬。
　　當(dāng)接收機(jī)在整個頻率范圍內(nèi)調(diào)諧預(yù)選器也調(diào)諧到相同的瞬時頻率。通過跟蹤接收機(jī)的頻率預(yù)選器將抑制掉在任何時候到達(dá)混頻器而接收機(jī)不進(jìn)行測量的那部分頻譜。預(yù)選通過減小混頻器上存在的脈沖信號的總能量（對這些脈沖信號的諧波進(jìn)行頻帶限制）以及可能使用較小的輸入衰減而提高了寬帶靈敏度。
　　安捷倫科技公司生產(chǎn)的8546A/8542E系列儀器是EMI測量接收機(jī)的一個實例。該類儀器工作在2.6~6.5GHz頻率范圍內(nèi)且滿足CISPR16-1要求直到2.9GHz具有±2dB的絕對幅度精度。分析儀的特點是在CISPR頻帶C/D對準(zhǔn)峰值測量具有-4dBμV的低噪聲電平（曲型值）。多重屏幕顯示能同時顯示寬掃描間隔和窄掃描間隔。
　　檢波器是CISPR相容性接收機(jī)的主要部分。峰值檢波、準(zhǔn)峰值檢波和平均值檢波均用來進(jìn)行輻射發(fā)射和傳導(dǎo)發(fā)射測量。某些技術(shù)要求包含了準(zhǔn)峰值測量和平均值測量極限。當(dāng)采用峰值檢波時檢波器的時間常數(shù)可以使其跟上中頻正弦波信號包絡(luò)的最快變化但不能反映中頻正弦波的瞬時值。峰值檢波器提供了三類檢波方法的最佳測量速度同時能給出被測設(shè)備輻射發(fā)射的最壞情況讀數(shù)。當(dāng)采用峰值檢波進(jìn)行測量時若被測設(shè)備的發(fā)射低于特定極限那么被測設(shè)備肯定能通過利用準(zhǔn)峰值或平均值檢波測量的規(guī)定測試。在此被測信號出現(xiàn)在較低電平處。
　　準(zhǔn)峰值檢波器的輸出電平將按照被測信號的脈沖速率而變化。準(zhǔn)峰值檢波器由特定時間常數(shù)定義。在低重復(fù)頻率上準(zhǔn)峰值檢波器具有適當(dāng)?shù)臅r間常數(shù)來對人射能量放電從而得到較小的輸出電壓讀數(shù)。在較高的重復(fù)頻率上檢波器不再對足夠多的入射能量放電這時檢波器的輸出電壓讀數(shù)較大。最終隨著入射信號的重復(fù)頻率趨近于連續(xù)波信號的重復(fù)頻率準(zhǔn)峰值檢波器的讀數(shù)也將趨于峰值檢波器的讀數(shù)。
　　雖然準(zhǔn)峰值檢波器看上去似乎比峰值檢波器更有利但其響應(yīng)時間卻比峰值檢波器慢得多。一般準(zhǔn)峰值檢波的測量時間比峰值檢波測量可能要增加2~3個數(shù)量級。
平均值檢波器有助于測量可能被寬帶干擾淹沒的窄帶EMI信號。對于平均值檢波器而言經(jīng)峰值檢波的信號必須通過其帶寬遠(yuǎn)小于分析儀的分辨帶寬濾波器帶寬的濾波器。濾波器對包絡(luò)檢波器輸出端頻率較高的信號分量（如噪聲）進(jìn)行積分或平均。
　　CISPR接收機(jī)實質(zhì)上是一臺調(diào)幅（AM）接收機(jī)在這種接收機(jī)中輸入信號經(jīng)準(zhǔn)峰值檢波加權(quán)。接收機(jī)包括濾除掉非線性信號響應(yīng)的預(yù)選。通過利用脈沖發(fā)生器建立符合CISPR規(guī)定的脈寬、重復(fù)頻率和幅度電平的測試信號來進(jìn)行準(zhǔn)峰值測量可以證實EMI接收機(jī)是否滿足CISPR Publication 16的技術(shù)要求。
　　例如在150kHz ~30MHz范圍的CISPR頻帶B內(nèi)幅度電平為+13VDc、脈寬為12ns的脈沖可以在EMI接收機(jī)輸入端提供參考測試信號。脈沖重復(fù)頻（PRF）范圍從單個脈沖到每秒1000個脈沖（1000Hz）。可以觀察到這個測試脈沖的正確EMI接收機(jī)幅度讀數(shù)。例如對于CISPR頻帶B的技術(shù)要求100Hz PRF脈沖在EMC接收機(jī)上應(yīng)得到60dBμV的顯示幅度。若使用了1Hz PRF，KIC爐溫測試儀則對于相同的60dBμV讀數(shù)需要更大的22.5dB的脈沖幅度。
　　EMI測量系統(tǒng)的另一個關(guān)鍵部分是測試軟件。利用適當(dāng)?shù)膬x器驅(qū)動器可以對接收機(jī)編程和控制，進(jìn)行自動調(diào)諧和數(shù)據(jù)獲取甚至調(diào)節(jié)被測設(shè)備（在旋轉(zhuǎn)臺上）和測量天線的位置。軟件應(yīng)具有全自動數(shù)據(jù)獲取和使用的功能以簡化記錄有問題的信號和生成實用EMI報告的任務(wù)使工程師可用來解決有關(guān)的輻射發(fā)射問題。
　　一旦組建起EMI測量系統(tǒng)就必須確定選擇測試位置。 EMI的預(yù)相容性測量可以在許多不同的地點完成包括屏蔽罩、半屏蔽罩和露天測試場地（OATS）。屏蔽罩是由導(dǎo)電壁、底板和頂板做成的小室。通常屏蔽室由焊接或用螺栓連接的鋼板制成。當(dāng)然也可以用金屬絲網(wǎng)甚至導(dǎo)電壁紙來制成。被測設(shè)備一般連同測試天線一起放在罩內(nèi)而其余測試設(shè)備則放在屏蔽室外測試電纜和電源線的接人點經(jīng)良好屏蔽以將干擾減到最小。
　　屏蔽罩以適中成本提供一個穩(wěn)定的環(huán)境且不受氣候的影響。然而由于表面導(dǎo)電效應(yīng)故來自被測設(shè)備的信號在屏蔽室內(nèi)可能產(chǎn)生多次反射而形成駐波。依據(jù)房間的大小以及測試設(shè)備和測試天線的位置反射波可能引起被測信號幅度發(fā)生重大變化。
　　露天測試場地不會受到屏蔽罩反射的損害。它利用金屬底板來模擬正常使用中的被測設(shè)備以保證測量可處處重復(fù)。然而由于測量是在室外進(jìn)行，所以將存在環(huán)境信號會被測試天線和EMI接收機(jī)檢拾問題。因此測試操作人員必須會判定哪些信號應(yīng)當(dāng)被測量而哪些信號可以忽略不計。在露天測試場地被測設(shè)備所發(fā)射的信號可能會被一些環(huán)境信號很強的信號（如廣播電臺發(fā)射的信號）淹沒掉還有可能引起EMI接收機(jī)的過載。為了在露天測試場地中進(jìn)行長年測試必須采用電磁傳導(dǎo)材料來防止不利氣候條件的影響。
　　成功的露天場地測試要求注意許多因素。露天場地必須滿足相應(yīng)的EMC標(biāo)準(zhǔn)的要求。必須對信號的周圍環(huán)境有全面的了解使之能有效地識別來自被測設(shè)備的可疑信號。在找出被測設(shè)備的最壞情況取向使信號幅度最大之后再將其與測試極限進(jìn)行比較。
　　部分無回波屏蔽室是一類用來模擬露天測試場地的屏蔽罩。為了消除普通無回波屏蔽室的多重反射將電磁吸收材料添加到墻壁和天花板上而地板仍維持導(dǎo)電表面。在某些方面（如低頻性能）這類屏蔽室也很難達(dá)到露天測試場地的效果。為了使部分無回波屏蔽室接近露天測試場地的良好低頻性能特別是在30~100MHz范圍的性能必須使用大量具有長吸收圓錐或鐵氧體瓦片形式的吸收材料。
　　材料會對EMI測試場地帶來什么差異呢？在對存在和不存在吸收材料的房間內(nèi)所完成的測試中未屏蔽的房間表現(xiàn)出反映駐波和反射波可能會大到30dB 。當(dāng)安裝上屏蔽材料時屏蔽房間的響應(yīng)性能要好得多盡管在30~8OMHz范圍仍存在某些反射。這是因為屏蔽房間的尺寸太小的緣故。為了減小低頻反射需要大約3米長的圓錐形吸收材料才成。
　　露天測試場地的性能可能通過如ANSI C63.4中指出的現(xiàn)場衰減測試來檢驗。在這項測試中已知幅度的信號源激勵處于地面上方1米的發(fā)射天線在此通常也放置被測設(shè)備。接收天線的高度從1米變化到4米直到給出最大接收機(jī)讀數(shù)的位置為止。記錄下每個頻率的信號幅度并與發(fā)射（Tx）和接收（Rx）天線電纜連在一起時的幅度讀數(shù)進(jìn)行比較。對于可接受的露天場地性能現(xiàn)場衰減測量應(yīng)處在理論響應(yīng)的±4dB以內(nèi)。
　　若測試場地不是露天測試場地（如部分無回波屏蔽室）則必須在待測最大型設(shè)備或系統(tǒng)所探尋的測試區(qū)內(nèi)進(jìn)行歸一化現(xiàn)場衰減（NSA）測試。TX天線放置在測試區(qū)的中心和四個正交邊緣上。因此對垂直和水平天線極化要進(jìn)行5次測量。
被測歸一化現(xiàn)場衰減（AN）可以從下式求出：
　　AN=VDIR-VSITE-ATX-ATR-ΔAFTOT
　　　=互阻抗修正系數(shù)
　　式中VDIR=發(fā)射天線處發(fā)射信號測量的最大值
　�。諷ITE=接收天線處發(fā)射信號測量的最大值
　　ATX=發(fā)射天線的天線因子
　　ATR=接收天線的天線因子
　　ΔAFTOT=互阻抗修正系數(shù)
　　NSA測量必須用處于水平極化和垂直極化的天線完成。在垂直極化的情況下天線的終端至少必須高于地面25米。
　　對基于CISPR的輻射發(fā)射測試將設(shè)備放置在可旋轉(zhuǎn)3600的、高80厘米的非導(dǎo)電臺面上。天線被安裝在天線桿上使之能在距離地面1~4米范圍升降。此天線桿一般距被測設(shè)備3米或10米遠(yuǎn)視有關(guān)條例而定。天線座必須能旋轉(zhuǎn)900以便能在水平極化和垂直極化場合進(jìn)行測量。被測設(shè)備按通常方式與電氣產(chǎn)品一起使用的外圍設(shè)備進(jìn)行連接并以反映其典型應(yīng)用的方式進(jìn)行工作。在有關(guān)頻率范圍進(jìn)行掃描而且還必須對環(huán)境信號或來自被測設(shè)備的可疑信號進(jìn)行識別。必須通過旋轉(zhuǎn)被測設(shè)備、升降天線和改變極化方向直到找出最大幅度的方式針對每個可疑信號尋找最壞情況的位置。